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快速变温试验箱温度变化率一般在5~20℃/分之间,实现以较快的速度真实再现所测样件应用环境条件,一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。
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